ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь

Название англ.: Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods

Содержание госта: Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц;
для туннельных диодов


ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь (фото 1 из 8)
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь (фото 2 из 8)
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь (фото 3 из 8)
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь (фото 4 из 8)
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь (фото 5 из 8)
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь (фото 6 из 8)
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь (фото 7 из 8)
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь (фото 8 из 8)